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清潔度分析系統(tǒng)-清潔度檢測(cè)清洗萃取機(jī)每年由于零件中清洗不干凈,帶有殘留顆粒物所造成的損失都有幾百萬美元、甚至上千萬美元之多。這些殘留的顆粒物主要來源于生產(chǎn)加工、以及運(yùn)輸環(huán)節(jié)的污染。在裝配過程中如果沒有把這些殘留的顆粒污染物清除干凈,在運(yùn)轉(zhuǎn)過程中會(huì)對(duì)發(fā)動(dòng)機(jī),動(dòng)力軸承等造成持續(xù)性的磨損,最終影響使用壽命,甚至造成安全事故。 因此建立有效清洗以及清潔度檢測(cè)系統(tǒng),對(duì)零件清洗效果清潔度檢測(cè)十分重要,也是品質(zhì)控制十分重要的一個(gè)環(huán)節(jié)。 零件表面清潔度檢測(cè)的目的 為了確保零部件達(dá)到安全可靠的要求,需要建立可靠的清洗和檢測(cè)體系,并且制定相關(guān)的檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)。目前,根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)體系的不同,可以分為自上而下4個(gè)不同層級(jí)級(jí)別的表準(zhǔn)體系。分別是ISO標(biāo)準(zhǔn) 、 國家(級(jí))標(biāo)準(zhǔn)、企業(yè)集團(tuán)推出標(biāo)準(zhǔn)和由生產(chǎn)廠編制的相關(guān)文件。 零件表面檢測(cè)的流程 盡管各個(gè)企業(yè)在各自的體系中所引用的標(biāo)準(zhǔn)可能有所不同,但是在整個(gè)檢測(cè)流程中各個(gè)處理步驟的流程是一致的,主要包括: 零件抽取—→污染物萃取—→濾膜烘干—→利用儀器進(jìn)行檢測(cè)分析—→出具相關(guān)的測(cè)試報(bào)告幾個(gè)步驟。 其中,零件萃取與利用儀器進(jìn)行分析是整個(gè)檢測(cè)流程中最重要的處理步驟。 萃取的目的是提取零件表面殘留的顆粒物污染物。目前,最常見的萃取方法主要是利用壓力流體進(jìn)行沖刷,使得附著在零部件表面的顆粒物污染物被沖離零件表面,以便過濾制作成為濾膜。 萃取 另一個(gè)萃取的方法是利用超聲波清洗來萃取顆粒物污染物,雖然使用超聲波清洗機(jī)萃取零部件表面的顆粒物污染物很簡(jiǎn)單,但是在過去的幾年中,這種方法已經(jīng)逐漸減少了,尤其是在零部件鑄造的零部件萃取上。超聲波的能量會(huì)造成鑄造材料的基體損傷,并產(chǎn)生新的顆粒物,從而導(dǎo)致測(cè)試結(jié)果出現(xiàn)偏差。 關(guān)于萃取方法另一個(gè)需要關(guān)注的是萃取液的選擇。一般情況下,含表面活性劑洗滌劑的水基溶液是首選。然而,如果零件的表面是油性或油膩的,則水機(jī)溶液的萃取效果就不是很好了。在這種情況下,推薦使用冷清洗溶劑,從環(huán)保以及經(jīng)濟(jì)性的角度出發(fā),冷清洗溶劑在萃取使用后會(huì)通過細(xì)過濾步驟,進(jìn)行回收利用。 儀器推薦:JYBLU-767清潔度檢測(cè)自動(dòng)清洗萃取設(shè)備 JYBLU767-清潔度檢測(cè)自動(dòng)清洗萃取設(shè)備以下簡(jiǎn)稱設(shè)備 1、設(shè)備功能特點(diǎn) 本設(shè)備可集成壓力噴射清洗、灌流清洗、超聲波清洗及清洗劑在線過濾制膜、循環(huán)精濾回收于一體,實(shí)現(xiàn)零件清洗與顆粒污染物過濾回收同步進(jìn)行,可及時(shí)將零件表面的顆粒污染物收集到濾膜表面,清洗零件結(jié)束后即可得到濾膜樣本,減少顆粒污染物在清洗劑中滯留時(shí)間;顛覆傳統(tǒng)手工人力清洗檢測(cè)的方式,規(guī)范了清潔度檢測(cè)流程,提升檢測(cè)效率。 本設(shè)備采用專用觸屏控制系統(tǒng)配合JYBLU控制軟件,使設(shè)備工作狀態(tài)實(shí)時(shí)顯示,清洗壓力、流量可調(diào),配合不同的清洗噴嘴,可快速方便的清洗零件內(nèi)腔通道、盲孔、及整體表面的,廣泛應(yīng)用于各種汽車零部件清潔度檢測(cè)。滿足ISO16232-2007,VDA19,GB/T3821-2005等國際及國內(nèi)標(biāo)準(zhǔn),滿足大眾、通用、福特等各大汽車廠清潔度檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)。 2、設(shè)備使用范圍 本設(shè)備集成高壓噴淋、沖洗、灌流清洗、超聲波清洗為一體,廣泛適用于各類汽車零部件表面清潔度的檢測(cè)時(shí)顆粒萃取制樣。例如:發(fā)動(dòng)機(jī)缸體、缸蓋、齒輪、曲軸、連桿、凸輪軸、氣門、活塞、搖臂、變速器軸銷、油泵、水泵、渦輪增壓器、油管油路等零部件及總成清潔度檢測(cè)。
關(guān)于過濾濾膜的選取與烘干 過濾步驟是將萃取溶劑中的顆粒物污染物過濾到濾膜上,以并后續(xù)的烘干、稱重以及儀器分析的處理流程。目前市面上主要銷售使用的濾膜有兩種,海綿式過濾濾膜以及濾網(wǎng)式過濾濾膜,根據(jù)所引用標(biāo)準(zhǔn)的不同,關(guān)于濾膜的孔徑的要求也有不同的要求。以VDA -19為例,最新的VDA -19檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)要求濾膜的孔徑不得大于5微米。 需要注意的是由于零部件中的炭黑在過濾出來的時(shí)候會(huì)停留在海綿式濾膜上,因此如果零部件如果含有炭黑的話推薦使用網(wǎng)格式濾膜以避免測(cè)試結(jié)果出現(xiàn)偏差。 儀器檢測(cè)與分析 檢測(cè)原理的不同,在濾膜分析與檢測(cè)儀器可以分為顯微鏡法和掃描式清潔度儀 顯微鏡法清潔度檢測(cè)儀 顯微鏡法清潔度檢測(cè)儀器是一種比較傳統(tǒng)的清潔度檢測(cè)分析方法,通過把濾膜劃分為多個(gè)小方格,通過高精度顯微鏡進(jìn)行拍攝,最終把拍攝到的圖像進(jìn)行組合,用于顆粒物的形狀、數(shù)量以及大小分析。儀器推薦JYBLU-100ZD清潔度檢測(cè)分析系統(tǒng) 1、清潔度檢測(cè)圖像分析系統(tǒng)主要功能 JYBLU-100ZD 清潔度檢測(cè)系統(tǒng)的完全符合 VDA 19.1-2015, ISO 16232, ISO4406 和 ISO 4407、QV11111以及客戶自定義等標(biāo)準(zhǔn)的要求。通過 JYBLU創(chuàng)新的自動(dòng)偏振光技術(shù),一次掃描即可完成整個(gè)濾膜上所有污染物的金屬光澤反射屬性的判定,同時(shí)根據(jù) VDA19.1 對(duì)纖維的形態(tài)學(xué)定義(拉伸長(zhǎng)度/最大內(nèi)切圓直徑>20,最大內(nèi)切圓直徑≦50 微米),即可在幾分鐘內(nèi)迅速自動(dòng)完成以下四類顆粒的分類和尺寸測(cè)量:反光顆粒、 反光纖維、 非反光顆粒、 非反光纖維 關(guān)于零件清潔度測(cè)試結(jié)果的表述 關(guān)于測(cè)試結(jié)果的表述主要包括重量法表述和粒度分析法表述,這里只簡(jiǎn)單的介紹粒度分析法的結(jié)果表述。 為了展示提取試驗(yàn)的數(shù)據(jù)并且獲取零部件清潔度檢測(cè)代碼(以ISO 16232標(biāo)準(zhǔn)為例)。 部件清潔度代碼(CCC)用一組字母和數(shù)字表示,寫在圓括號(hào)內(nèi),并用斜線隔開,字母是表1中表示粒度等級(jí)的全部或幾個(gè)字母,數(shù)字是表2中給出的表示污染物等級(jí)的數(shù)字。
顆粒計(jì)數(shù)的粒度分級(jí)
測(cè)試報(bào)告中,應(yīng)注明原始顆粒數(shù)量 圓括號(hào)前的字母A指代碼是以1000cm2浸濕表面積表示,V指代碼是以100cm3浸濕體積表示。 當(dāng)CCC指整個(gè)粒度范圍時(shí),表1中的所有字母和相應(yīng)等級(jí)都要寫出,如: CCC=V(B20/C16/D18/E12/F12/G12/H8/I0/J0/K00) 當(dāng)CCC指部分粒度等級(jí)時(shí),只要寫出相關(guān)的字母和對(duì)應(yīng)的等級(jí),如: CCC=V(C16/D18/E12/F12/G12/J0) 意味著在B,H,I和K的粒度范圍內(nèi)不需要(無結(jié)果)清潔度數(shù)據(jù)。 當(dāng)幾個(gè)連續(xù)的粒度等級(jí)對(duì)應(yīng)著相同的清潔度等級(jí)時(shí),可以依次寫出粒度等級(jí),然后在最好一個(gè)字母后寫出相應(yīng)的清潔度等級(jí),如: …/efg12/… CCC=V(C16/D18/EFG12/H8/J0) 意味著2000~4000個(gè)顆粒(清潔度12級(jí))落在3個(gè)粒度范圍:50≤X<100(E級(jí)),100≤X<150(F)和150≤X<200(G)(單位μm),并且不需要(沒有)B,I和K等粒度等級(jí)。 當(dāng)某清潔度等級(jí)對(duì)應(yīng)的粒度范圍比表1中的一些范圍寬時(shí)(如該粒度范圍覆蓋了連續(xù)幾個(gè)粒度范圍),則用最低和最高粒度的字母(中間用連接號(hào))加上相應(yīng)的清潔度等級(jí)表示,如: …../G-J20/….. CCC=V(C16/D18/EF12/G-J20) 意味著500×103~106個(gè)顆粒落在150~1000μm的粒度范圍,并且不需要(沒有)其它粒度等級(jí)。 CCC=V(G-K20) 意味著500×103~106個(gè)顆粒落在大于150μm的粒度范圍(G~K級(jí)),并且不需要(沒有)其它粒度等級(jí)。 CCC=V(G-K00) 意味著0個(gè)顆粒落在大于150μm的粒度范圍(G~K級(jí)),并且不需要(沒有)其它粒度等級(jí)。 其它例子見附錄C。 6.4.6 清潔度的可選變形表述。 |